长电科技为客户提供全套测试平台和工程服务,以支持各种混合信号、射频 (RF)和毫米波、模拟和高性能数字半导体器件。我们的一站式测试服务涵盖中道晶圆测试、后道封装功能测试和系统级测试,覆盖主流到高端的各类测试平台,为客户提供行业领先的测试技术能力、品质保障、流程优化、成本控制和运营效率。

测试服务项目
测试平台
晶圆分拣
测试开发服务
射频测试
混合信号测试
存储器测试
高端数字测试
整条测试
成品测试
终端测试
测试管理系统
可靠性试验与失效分析

长电科技的认证质量测试中心,提供多种可靠性试验,包括环境可靠性测试、使用寿命可靠性测试、板级可靠性试验,和全方位的失效分析服务。

长电科技已经获得中国合格评定国家认可委员会的实验室认可证书(CNAS认证)

可靠性测试:

环境可靠性

环境可靠性

板级可靠性

  • 热变形检测 Warpage

  • 板级跌落试验 Drop Test(Board Level)

  • 板级温度循环 TCT(Board Level)

其他类可靠性

  • 可焊性 Solder

  • 耐焊接热 SHT

  • 高速老化寿命试验 HAST

  • 回流焊 Reflow

失效分析:

环境可靠性